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高低溫測(cè)試儀｜lcd高低溫老化箱
簡(jiǎn)要描述：
高低溫測(cè)試儀｜lcd高低溫老化箱將高溫（高溫150℃、120℃、100℃）、低溫（-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃）試驗(yàn)集在個(gè)箱體，對(duì)被測(cè)的lcd樣品進(jìn)行測(cè)試?yán)匣梢员普娴哪M自然溫度工況，本試驗(yàn)箱用于測(cè)試和確定lcd、LED、電工、電器、電子、光電及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫或恒定溫度試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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高低溫測(cè)試儀｜lcd高低溫老化箱冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)：
制冷機(jī)采用法*“泰康”封閉壓縮機(jī)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用多翼式送風(fēng)機(jī)送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。升溫、降溫、加濕系統(tǒng)獨(dú)立可提率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。
高低溫測(cè)試儀｜lcd高低溫老化箱主要技術(shù)指標(biāo)：
1 、溫度范圍：A:-20℃、B-40℃、C-50℃、D-60℃、E-70℃、F-80℃～+100(150)℃
2 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：0.7～1℃/min
?型號(hào) | 工作室尺寸（mm）深×寬×高 | 箱體尺寸（mm） |
AP-GD-100LABCD | 400×500×500 | 950×880×1570 |
AP-GD-150LABCD | 500×500×600 | 985×932×1662 |
AP-GD-225LABCD | 500×600×750 | 1003×1050×1770 |
AP-GD-408LABCD | 600×800×850 | 1060×1220×1850 |
AP-GD-500LABCD | 700×800×900 | 1182×1250×1980 |
AP-GD-800LABCD | 800×1000×1000 | 1360×1500×2050 |
AP-GD1000LABCD | 1000×1000×1000 | 1485×1520×2020 |
以上高低溫測(cè)試儀｜lcd高低溫老化箱參數(shù)不夠詳細(xì)，如需詳細(xì)報(bào)價(jià)方案及技術(shù)方案請(qǐng)東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司咨詢。
